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FISCHER上海代理金屬鍍層測(cè)厚儀XDLM231信息
更新時(shí)間：2025-04-30 點(diǎn)擊次數(shù)：31次
菲希爾X-RAY鍍層測(cè)厚儀用途：
菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM231可用于測(cè)量所有金屬鍍層的厚度以及多鍍層或者合金成分分析，也可以進(jìn)行電解溶液含量成份分析，帶有國(guó)家環(huán)保局豁免證書(shū)，無(wú)放射源設(shè)計(jì)，安全環(huán)保。菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM231主要用于微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層測(cè)量、分析。
菲希爾X-RAY鍍層測(cè)厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
1、測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零部件；
2、測(cè)量微小區(qū)域上的薄鍍層；
3、測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層；
4、全自動(dòng)測(cè)量，如測(cè)量印刷線路板。
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